La plateforme de test optique utilise un spectromètre et une caméra pour les tests de niveau semi-conducteur.
Teradyne dévoile le testeur Iris 100, un système de test optique destiné à la technologie MicroLED. Les récents développements des secteurs de la réalité augmentée (AR) et de l’intelligence artificielle ont fait passer cette technologie du laboratoire à la production à grande échelle. Les MicroLED sont en effet au cœur des micro-écran pour l’AR et des interconnexions optiques pour les centres de données dédiés à l’IA. « La technologie MicroLED passe du laboratoire à la production à grande échelle, aussi bien pour les micro-écrans AR que, de plus en plus, pour les interconnexions optiques, qui deviennent essentielles pour permettre aux centres de données dédiés à l’IA de dépasser les limites des connexions en cuivre, a déclaré Shannon Poulin, président de la division Semiconductor Test de Teradyne. Ces deux technologies nécessitent le test de chaque émetteur individuel avec un débit adapté à la production industrielle, et le testeur Iris 100 permet aujourd’hui de répondre à ce besoin en s’appuyant sur des infrastructures de test que nos clients utilisent déjà à grande échelle. »
Le système Iris 100 utilise un spectromètre et une caméra haute résolution pour mesurer la réponse spectrale du réseau de MicroLED, ainsi que la luminance et l’uniformité de chaque pixel. La parallélisation avancée des tests et les algorithmes de traitement d’image permettent de caractériser un réseau complet comprenant plusieurs millions de MicroLED avec un débit élevé. Il utilise le logiciel IG-XL de Teradyne pour détecter les défauts optiques comme les pixels éteints ou bloqués et les défauts en cluster, dès les premières étapes du processus de fabrication. Le processus d’étalonnage traçable selon les normes du NIST permet d’effectuer des mesures absolues et d’assurer la corrélation entre les lots, les wafers et les différents sites de production.
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