Au total, trois nouveaux instruments sont destinés aux semi-conducteurs utilisés dans l’intelligence artificielle et les centres de données.
Teradyne annonce trois nouveaux instruments pour sa plateforme de test automatique UltraFLEXplus : les UltraPin5000-EM, UltraPort-PCIe6 et UltraVS64-HP. Ils visent les nouveaux besoins de test liés à l’augmentation de la complexité des semi-conducteurs destinés à l’IA et aux centres de données.
L’UltraPin5000-EM est une carte numérique destinée notamment aux dispositifs nécessitant d’importants volumes de patterns de test. Sa mémoire vectorielle peut atteindre 80 fois celle d’autres solutions du marché, tandis que le chargement des patterns est annoncé jusqu’à dix fois plus rapide. Elle fonctionne jusqu’à 5 Gbit/s et dispose d’une architecture de temporisation permettant des fréquences d’horloge indépendantes sur chaque broche.
L’UltraPort-PCIe6 cible quant à lui la vérification des interfaces PCIe Gen6. Il atteint 64 Gbit/s en PAM-4 sur 32 lanes par instrument et intègre notamment une PMU par broche ainsi qu’une fonction de loopback. Son backend de calcul peut évoluer jusqu’à 2 To de mémoire afin de traiter des volumes de données de test plus importants.
Enfin, l’UltraVS64-HP est dédié à l’alimentation des dispositifs soumis à des niveaux élevés de courant. Il fournit jusqu’à 1 280 A par instrument, 5 120 A en configuration groupée et plus de 15 000 A à l’échelle de la cellule de test. Sa plage de fonctionnement atteint 16 V, notamment pour accompagner les architectures intégrant des régulateurs de tension intégrés (IVR). Ce dernier instrument intègre également des fonctions de power profiling et une gestion de l’alimentation au niveau système. Une réponse matérielle rapide en cas de défaut vise notamment à limiter les risques de thermal runaway susceptibles d’endommager les équipements de test.
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