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Rohde & Schwarz contribue au lancement d'un radar d'imagerie 4D par le fabricant de radars automobiles Cubtek en partenariat avec NXP

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Dans le cadre du développement d'un radar d'imagerie 4D, Cubtek Inc. utilise les analyseurs de réseau de Rohde & Schwarz pour effectuer des mesures RF dans la bande E.

Cubtek Inc., fabricant de radars automobiles à ondes millimétriques 77GHz, s'est associé à NXP Semiconductors, spécialisé dans la fabrication de puces pour radars automobiles, afin d'introduire sur le marché, à l'occasion du CES de janvier dernier, une plate-forme radar d'imagerie 4D. La solution d'imagerie radar de NXP exploite le microprocesseur radar S32R45 et l'émetteur-récepteur radar RFCMOS TEF82XX.

Cette deuxième génération d'émetteur-récepteur radar de hautes performances offre 12 canaux d'antenne à 77 GHz en émission et 16 en réception. La technologie MIMO permet d'étendre le nombre de canaux à 192 réseaux d'antennes virtuelles. Les performances du radar d'imagerie 4D sont rehaussées par des algorithmes d'optimisation de haute résolution. Ce qui permet d'atteindre une résolution angulaire inférieure à 1 degré.

Pour développer son radar d'imagerie 4D et effectuer des mesures RF dans la bande E, Cubtek a opté pour l'analyseur de réseau ZVA40 et le convertisseur d'ondes millimétriques ZVA-Z90 de Rohde & Schwarz. Ces instruments offrent à la fois des performances élevées et une très grande précision de mesure dans de sensibles environnements haute fréquence.

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