L’américain National Instruments, spécialiste des systèmes de test basés sur plateformes, vient d’étoffer son offre d’oscilloscopes numériques modulaires, avec le modèle au format PXI Express (PXIe) PXIe-5164. Ce nouvel oscilloscope se caractérise notamment par une gamme de tension de 100 V pic à pic (offsets programmables pour des mesures jusqu'à ±250 V et 2 voies CAT II), à une fréquence d’échantillonnage de 1 Géch/s et une résolution de 14 bits.
« Les oscilloscopes au format PXI permettent de diminuer les temps de test, d'augmenter la densité de voies et garantissent à présent une plus grande souplesse de mesure en associant une large bande passante, une haute résolution et une gamme de tensions élevée. Les capacités de mesure du PXIe-5164 permettent de visualiser de petits détails généralement masqués par le bruit de l'instrument », affirme Steve Warntjes, vice-président de la R&D de National Instruments.
Parmi les autres caractéristiques, citons une bande passante de 400 MHz, un flux de données de 3,5 Go/s supporté via 8 voies de communication de bus PCI Express Gen 2, un FPGA Xilinx Kintex-7 410T permettant de développer des IP personnalisées en LabVIEW (filtrage, déclenchement), 9 entrées/sorties numériques.
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